R. Denk, A. Lodi-Rizzini, S. Wang, M. Hohage, P. Zeppenfeld, J. Cai, R. Fasel, P. Ruffieux, R. Berger, Z. Chen, A. Narita, X. Feng, K. Mullen, R. Biagi, V. De Renzi, D. Prezzi, A. Ruini, A. Ferretti

http://arxiv.org/abs/1809.01949 Publications Nanoscale, 2017, 9, 18326.