S. Bailleul, K. Dedecker, P. Cnudde, L. Vanduyfhuys, M. Waroquier, V. Van Speybroeck
A. Keri, R. Dahn, M. M. Fernandes, A. C. Scheinost, M. Krack, and S. V. Churakov
H. Liu, Z. H. Ren, X. Zhang, J. J. Hu, M. X. Gao, H. G. Pan, and Y. F. Liu
T. T. Yang, T. L. Tan, and W. A. Saidi
O. Ochs, M. Hocke, S. Spitzer, W. M. Heckl, N. Martsinovich, and M. Lackinger
S. Ehrling, M. Mendt, I. Senkovska, J. D. Evans, V. Bon, P. Petkov, C. Ehrling, F. Walenszus, A...
S. M. Pratik, L. Gagliardi, and C. J. Cramer
J. H. Tao, M. S. Lee, M. L. Sushko, J. J. De Yoreo, J. Liu, Z. S. Zhang, D. Banerjee, S. Akkineni,...
K. Dohnalova, P. Hapala, K. Kusova, and I. Infante
F. Ambrosio, E. Mosconi, A. A. Alasmari, F. A. S. Alasmary, D. Meggiolaro, and F. De Angelis
R. Gaillac, P. Pullumbi, T. D. Bennett, and F. X. Coudert
N. Osterbacka, P. Erhart, S. Falletta, A. Pasquarello, and J. Wiktor
E. Tayyebi, J. Hussain, and E. Skulason
X. L. Wang, J. Du, Q. H. Zhang, L. Gu, L. J. Cao,and H. P. Liang
W. Zhang, J. F. Liu, X. S. Jin, X. G. Gu, X. C. Zeng, X. He, and H. Li
D. Li, X. Wang, H. X. Zhao, Y. P. Ren, G. L. Zhuang, L. S. Long, L. S. Zheng
A. Wittmann, G. Schweicher, K. Broch, J. Novak, V. Lami, D. Cornil, E. R. McNellis, O. Zadvorna, D...
S. Wolff, R. Gillen, M. Assebban, G. Abellan, and J. Maultzsch
J. C. Li, S. Sanz, J. Castro-Esteban, M. Vilas-Varela, N. Friedrich, T. Frederiksen, D. Pena, and J...
T. Pham, S. Oh, S. Stonemeyer, B. Shevitski, J. D. Cain, C. Y. Song, P. Ercius, M. L. Cohen, and A...
G. H. Yang, Y. Shao, J. B. Niu, X. L. Ma, C. Y. Lu, W. Wei, X. C. Chuai, J. W. Wang, J. C. Cao, H...
N. Bachellier, B. Verlhac, L. Garnier, J. Zaldivar, C. Rubio-Verdu,P. Abufager, M. Ormaza, D. J...