S. Jeong, T.W. Heo, J. Oktawiec, R.P.Shi, S. Kang, J.L. White, A. Schneemann, E.W. Zaia,L.W.F. Wan, K.G. Ray, Y.S. Liu, V. Stavila, J.H. Guo, J. R. Long, B.C. Wood, and J.J. Urban

DOI: 10.1021/acsnano.9b07454 ACS NANO 14, 2, 1745–1756 (2020)

Resource type: