J. Choi, M.J. Choi, J. Kim, F. Dinic, P. Todorovic, B. Sun, M.Y. Wei, S.W. Baek, S. Hoogland, F.P.G. de Arquer, O. Voznyy, and E.H. Sargent
DOI: 10.1002/adma.201906497 ADVANCED MATERIALS 32, 7 (2020)Resource type:
- CP2K
J. Choi, M.J. Choi, J. Kim, F. Dinic, P. Todorovic, B. Sun, M.Y. Wei, S.W. Baek, S. Hoogland, F.P.G. de Arquer, O. Voznyy, and E.H. Sargent
DOI: 10.1002/adma.201906497 ADVANCED MATERIALS 32, 7 (2020)